微納加工應用

時間：2020-04-14

作者：儀準科技（北京）有限公司

詞條
詞條說明
PCB失效分析
失效分析就是要分析損壞的產(chǎn)品從而為改進設計或明確責任提供素材的工作。但是從行業(yè)來看，目前很多公司特別是中小型公司的失效分析做的并不好。中國有句俗話叫：“吃一塹，長一智”，《論語》中也有“**過”的說法。其本質就是要從失敗中吸取教訓避免進一步的犯錯。一方面，一些中小型電子產(chǎn)品生產(chǎn)商沒有良好的物料控制體系，不能對物料進行有效的追溯。一旦出了問題，很難查到當年的渠道和來源。甚至不能保證物料的真?zhèn)巍］^
芯片開封decap簡介及芯片開封在失效分析中應用案例分析
半導體元器件失效分析性測試?2024年07月08日 15:32?北京DECAP：即開封，業(yè)內也稱開蓋，開帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來，同時保持芯片功能的完整無損，為下一步芯片失效分析實驗做準備，方便觀察或做其他測試。通過芯片開封，我們可以為直觀的觀察到芯片內部結構，從而結合OM，X-RAY等設備分析判斷樣品的異常點位和失效的可能原因。開封方法及注意
熱插拔帶來的EOS損壞
熱插拔帶來的EOS損壞 \使用USB接口的產(chǎn)品，如果熱插拔設計存在問題的話，*帶來EOS破壞。產(chǎn)品熱插拔的時候，可能會帶來瞬時的大電流，這種大電流，是一種震蕩波，首先，可能直接破壞芯片或器件，而是激發(fā)芯片產(chǎn)生大電流的latchup效應，最后燒壞芯片或器件。某產(chǎn)品試用時，插拔時頻頻出現(xiàn)損壞，經(jīng)過比對電性分析，發(fā)現(xiàn)電性明顯異常，進行EMMI測試，發(fā)現(xiàn)芯片表面異常亮點，在顯微鏡下，發(fā)現(xiàn)鋁線燒損，判
2019年**半導體市場不景氣，中國表現(xiàn)良好
2019年**半導體市場陷入萎縮，而中國可圈可點經(jīng)常會有人問半導體產(chǎn)業(yè)是什么樣的一種產(chǎn)業(yè)？魏少軍教授用奧地利經(jīng)濟學家約瑟夫·熊彼得的一句話來引出，那就是“創(chuàng)新不是一個技術概念，而是一個經(jīng)濟概念”。半導體或者芯片產(chǎn)業(yè)，恰恰是一個創(chuàng)新驅動的產(chǎn)業(yè)，它的發(fā)明較終變成了錢，它是靠創(chuàng)新的方式來發(fā)展。所以它是個創(chuàng)新驅動的產(chǎn)業(yè)。了解了半導體產(chǎn)業(yè)的形式之后，再來看下半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展情況。以史為鑒，從1987年到