詞條
詞條說(shuō)明
原子吸收光譜儀AAS在地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分分析。火花光譜儀1.選擇性強(qiáng)由于原子吸收譜線僅發(fā)生在主線系,而且譜線很窄,線重疊幾率較**光譜要小得多,所以光譜干擾較小選擇性強(qiáng),而且光譜干擾*克服。在大多數(shù)情況下,共存元素不對(duì)原子吸收光譜分析產(chǎn)生干擾。由于選擇性強(qiáng),使得分析準(zhǔn)確快速。2.靈敏度高原
鍍層測(cè)厚儀選購(gòu)指南:關(guān)鍵指標(biāo)與實(shí)用建議鍍層測(cè)厚儀作為表面處理行業(yè)的重要檢測(cè)工具,其性能直接關(guān)系到產(chǎn)品質(zhì)量控制。市場(chǎng)上儀器種類繁多,如何選擇適合的型號(hào)成為許多用戶的難題。 測(cè)量原理選擇鍍層測(cè)厚儀主要分為磁感應(yīng)式和渦流式兩種。磁感應(yīng)式適用于測(cè)量磁性基體上的非磁性鍍層,如鋼鐵表面的鍍鋅、鍍鉻等。渦流式則用于非磁性金屬基體上的絕緣鍍層測(cè)量,如鋁合金表面的陽(yáng)極氧化層。對(duì)于復(fù)雜基材組合,雙功能機(jī)型能提供較全
鍍層厚度檢測(cè)的關(guān)鍵技術(shù)與方法 鍍層厚度測(cè)量是工業(yè)生產(chǎn)中一項(xiàng)重要的質(zhì)量控制環(huán)節(jié),尤其在金屬加工、電子制造、汽車零部件等領(lǐng)域,鍍層的均勻性和厚度直接影響產(chǎn)品的性能和壽命。精準(zhǔn)測(cè)量鍍層厚度不僅能確保工藝達(dá)標(biāo),還能減少材料浪費(fèi),提高生產(chǎn)效率。 目前,常見(jiàn)的鍍層厚度測(cè)量方法包括磁性法、渦流法、X射線熒光法等。磁性法適用于鐵基材料上的非磁性鍍層測(cè)量,如鍍鋅、鍍鉻等,操作簡(jiǎn)便且成本較低。渦流法則主要用于非鐵金屬
X射線測(cè)厚儀:工業(yè)測(cè)量的精準(zhǔn)之眼在現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)線上,X射線測(cè)厚儀以其非接觸式測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)成為不可或缺的精密儀器。這種設(shè)備利用X射線穿透物質(zhì)時(shí)的衰減特性,能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量金屬、塑料、紙張等材料的厚度,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了可靠**。X射線測(cè)厚儀的**原理基于比爾-朗伯定律,當(dāng)X射線穿過(guò)被測(cè)材料時(shí),其強(qiáng)度會(huì)隨材料厚度增加呈指數(shù)衰減。儀器通過(guò)檢測(cè)穿透后的X射線強(qiáng)度變化,經(jīng)過(guò)精密計(jì)算得出材料厚度值。這一過(guò)
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ROHS測(cè)試儀器 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
ROHS有害物質(zhì)分析儀 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
ROHS有害元素檢測(cè)儀 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
ROHS2.0分析儀器 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
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ROHS環(huán)保檢測(cè)儀 ROHS10項(xiàng)檢測(cè)儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)樣品進(jìn)行分析
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