2022慕尼黑光博會(huì)展出新型平**光束整形器

時(shí)間：2022-08-18作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：300

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• xenics長(zhǎng)波紅外相機(jī)應(yīng)用于熱工藝監(jiān)控

  熱工藝在許多行業(yè)中用于材料工程，例如熔化、成型或干燥。由于加工溫度可能很高，因此在加熱過程之后監(jiān)控冷卻非常重要，而且存在一定的火災(zāi)風(fēng)險(xiǎn)，工作過程需要安全控制，這樣可以安全地進(jìn)行流程或暫停等待下一步。實(shí)際上，過高的溫度可能會(huì)給后續(xù)程序步驟帶來(lái)麻煩。此外，儲(chǔ)存也是一個(gè)問題，因?yàn)樗赡軙?huì)引起火災(zāi)，導(dǎo)致生產(chǎn)停止，損壞產(chǎn)品，甚至損壞工廠。長(zhǎng)波紅外相機(jī)(LWIR)，為監(jiān)測(cè)溫度的適宜波長(zhǎng)范圍長(zhǎng)波紅外LWIR相機(jī)

• 波片的常見類型和分類以及選擇合適波片的方法

  Waveplate波片，也稱為延遲器，可以改變激光光束的偏振狀態(tài)，而不會(huì)衰減、偏離或平移光束。波片是控制和分析光的偏振狀態(tài)的理想選擇。它們有三種主要類型——零階波片、多階波片和消色差波片。每種類型都具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，具體取決于手頭的應(yīng)用。因此，對(duì)各類波片的深入理解有助于人們選擇正確的波片以及更好的應(yīng)用波片。多階波片Multiple Order Waveplates多階波片由一塊石英晶體板（標(biāo)稱厚度為

• optodiode探測(cè)器常見問題及解決方法

  optodiode探測(cè)器常見問題及解決方法如下。美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)（時(shí)間常數(shù)太慢），第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高（超過1mW/cm2），探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比最初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間更長(zhǎng)，因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化，這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器

• 全站型自準(zhǔn)直儀

  DUMA全站型自準(zhǔn)直儀是在內(nèi)調(diào)焦自準(zhǔn)直儀EAC-1012-19-FO的基礎(chǔ)上發(fā)展出來(lái)的一系列產(chǎn)品。全站型自準(zhǔn)直儀具有更強(qiáng)大的功能，可用于VCSEL、AR、VR等領(lǐng)域的測(cè)量，具體型號(hào)包括EAC-1012-19-FO/T-RG-IR，EAC-1012-19-FO/T-RGB，EAC-1012-19-FO/T-1060和EAC-1012-19-FO/T-1310。在我們生活中，如AR、VR、激光雷達(dá)、自