硒化鋅分束器被用于高功率激光

時間：2023-10-27

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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光纖光譜儀應用在檢測薄膜厚度
首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強的重新分布，在某些區域始終加強，在某些區域始終減弱，從而出現了明暗相間的條紋，這種現象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學光纖光譜儀，利用干涉效應來測量薄膜厚度的原理圖。當一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進入薄膜發生折射，折射光經膜層下表面反射后，再經
用于較紫外光EUV，集成選擇性帶通薄膜濾波片的硅光電二極管
選擇了六個在極紫外光譜中具有有用帶通的涂層進行研究：鋁、鋁/碳，鋁/碳/鈧，鈦，錫，和銀。這些濾波片通常用于0.1至80納米的區域，并有10到50納米的帶通。濾光材料涂層是由有經驗的無支架濾光片供應商在晶圓上涂抹的，以確保光學質量是最先進的。涂層和非涂層光電二極管的輻射測量是通過美國國家標準技術研究所（NIST）的極紫外探測器標準進行的。該設施同時利用了NIST電子存儲環同步輻射源、SURF II
optodiode探測器問題指南
optodiode探測器常見問題及解決方法如下：美國optodiode探測器響應時間太長（時間常數太慢），第一步是檢查源強度。如果光源的強度太高（超過1mW/cm2），探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進行測量所需的時間更長，因為基本上探測器被重新敏化，這改變了探測器的光導特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
激光器被動調Q開關晶體
維爾克斯光電專業代理立陶宛Optogama的被動調Q開關晶體，它和可飽和吸收體一樣，可以被用作被動調Q激光器中的激光諧振腔質量調制器，其工作原理不同于主動調Q方式的電控調制器。通常，這些吸收材料的飽和通量(單位面積的飽和能量)很低，它們在聚焦光束中使用時會進一步降低飽和能量(飽和通量乘以光束面積)。立陶宛Optogama公司旗下的 4Lasers部門有三款成熟的被動調Q晶體：Cr:YAG cry