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形位公差依跳動分類:圓跳動形位公差 和全跳動形位公差。圓跳動形位公差,又分為:徑向圓跳動公差、端面圓跳動形位公差、斜向圓跳動公差、斜向(給定角度的)圓跳動公差。形位公差,依定向分類形位公差,依定向分類:平行度形位公差、垂直度形位公差、傾斜度形位公差。 有分為線對線平行度公差、線對面平行度公差、面對線平行度公差、面對面平行度公差。形位公差依輪廓度分類形位公差,依輪廓度分類,可以分為,線輪廓度形位公差
在 PCBA 應力應變測試中,選取最佳測試點是獲得準確結果的關鍵步驟。首先,考慮組件的關鍵位置。對于 PCBA 電路板來說,像 BGA(球柵陣列封裝)、QFN(四方扁平無引腳封裝)等封裝形式的芯片是重點關注對象。這些芯片引腳眾多且間距小,在受熱或受到外力時容易出現應力集中的情況。在芯片的四個角落以及中心位置附近設置測試點是比較合適的,因為角落往往是應力變化比較明顯的地方,而中心位置可以幫助檢測整體
FTIR紅外光譜技術原理FTIR,屬于分子光譜的應用,在工業領域,較為常用的是中紅外光譜。?目標樣品,被紅外照射之后,樣品內部的分子結構吸收特征頻率的輻射, 輻射環境分子的振動轉動,引起分子結構的偶極矩改變, 由此分子振動能級、轉動能級,都被激發躍遷,躍遷從基態到激發態的能級變化,產生特征頻率、特征強度的分子光譜 物質的化學結構定性分析,就是基于該光譜圖的特征頻率和特征強度的綜合判定。編
優爾鴻信檢測 PCB板上離子污染的主要來源有哪些,如何預防?
主要來源制造過程中的化學物質殘留:在 PCB 板的制造過程中,會使用多種化學試劑。例如,在蝕刻環節,使用的蝕刻液可能會殘留在 PCB 板上。如果蝕刻后的清洗不徹底,蝕刻液中的金屬離子(如銅離子)就會成為離子污染源。另外,在電鍍過程中,電鍍液也可能會有殘留,其中含有的鎳、金等金屬離子也會造成污染。助焊劑殘留:在焊接電子元件時,會使用助焊劑來提高焊接質量。助焊劑通常含有有機酸、鹵化物等成分。焊接完成后
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