詞條
詞條說(shuō)明
探頭旋轉(zhuǎn)的檢測(cè)技術(shù)中,被測(cè)產(chǎn)品直線通過(guò)旋轉(zhuǎn)探頭,因此形成了螺旋形的檢測(cè)路徑。當(dāng)探頭經(jīng)過(guò)缺陷時(shí),形成的渦流場(chǎng)的變化被檢測(cè)到。可以檢測(cè)到的較小缺陷長(zhǎng)度是由探頭旋轉(zhuǎn)速度和材料通過(guò)的速度來(lái)決定的。同樣,可以通過(guò)固定探頭而旋轉(zhuǎn)材料并通過(guò)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。使用Rotomac? BQ高溫檢測(cè)儀可以檢測(cè)高溫材料。 MAC現(xiàn)有的檢測(cè)頭都是可連續(xù)變化的告訴旋轉(zhuǎn)體(1800到600RPM),并且結(jié)合各種多通道探頭,可
ECHOMETER1076 BASIC超聲波測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹: ECHOMETER1076 BASIC超聲波測(cè)厚儀創(chuàng)新采用聲速和壁厚雙重檢測(cè)的超聲波檢測(cè)儀。它操作簡(jiǎn)單,用戶只要在菜單上點(diǎn)擊幾下就能使用ECHOMETER1076 BASIC超聲波測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)厚作業(yè)。 ECHOMETER1076 BASIC超聲波測(cè)厚儀的特點(diǎn): 一、壁厚測(cè)量范圍 0.7-400 mm 二、聲速測(cè)量范圍 100-19,9
XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校較常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動(dòng)尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等領(lǐng)域。偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀采用微電腦
太陽(yáng)能電池分析儀PROVA-200· 單晶片I-V特性曲線測(cè)試· 可找出太陽(yáng)能模組最大功率的工作點(diǎn) (Vmaxp, Imaxp)· 量測(cè)最大功率時(shí) (Pmax) 的較大電壓 (Vmaxp) 較大電流 (Imaxp)· 量測(cè)開路電壓 (Vopen) 與短路電流 (Ishort)· 移動(dòng)指標(biāo)可顯示I-V特性曲線每一點(diǎn)的特性值· 可選購(gòu)攜帶式印表機(jī)將圖形與特性值直接復(fù)制下來(lái)· 在標(biāo)準(zhǔn)光源下可直接顯示太
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