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常規(guī)的CMOS結構中,電源與地之間存在寄生的PNPN即SCR結構。當SCR被觸發(fā)時,電源到地之間存在低阻通道,引起較大電流,破壞電路工作甚至燒毀電路,這就是閂鎖效應 (Latch-up)。為避免閂鎖效應,早期采用SOS (Silicon On Sapphire) 技術制作CMOS電路,即在藍寶石絕緣襯底上外延硅,之后制作器件,這就有效的避免MOS管的源、漏區(qū)和襯底之間形成PN結。但是,藍寶石價格昂
1 MEMS 比 CMOS 的復雜之處MEMS 與 CMOS的根本區(qū)別在于:MEMS 是帶活動部件的三維器件,CMOS 是二維器件。因此,雖然許多刻蝕和沉積工藝相似,但某些工藝是 MEMS *有的,例如失效機理。舉個例子,由于 CMOS 器件沒有活動部件,因此不需要釋放工藝。正因為如此,當活動部件“粘”在表面上,導致設備故障時,就會產生靜摩擦,CMOS 沒有這種問題。CMOS 器件是在硅材料上逐層
眾所周知,隨著手機技術的不斷發(fā)展,在過去幾年中,智能手機上功能和技術增長較快的是手機攝影功能,尤其是似乎像參與了手機攝影比賽一般的國產手機,一直高掛在DXO榜單上。映射到手機上表現為攝像頭的數量不斷增加,像素不斷加高,這點讓CMOS制造商口袋飽飽。例如,由于CMOS芯片的巨大銷售量,索尼**進入了世界前15大半導體市場,當然,這背后的國產機功勞功不可沒。CMOS是互補金屬氧化物半導體的縮寫。它是指
不可否認的是,CMOS的微縮已經成為推動過去幾十年的巨大進步的“燃料”,以提高性能、效率和降低集成電路和系統(tǒng)的成本,從而實現新的應用。摩爾定律的終結已經被預言了很多次,而材料、設備概念和圖案的創(chuàng)新已經為當前的10nm以下技術掃清了道路。然而,該行業(yè)已經到了這樣一個階段:過去50年的規(guī)?;鶐淼墓摹⑿阅?、面積和成本(PPAC)方面的典型收益已經變得越來越難以實現,尤其是在展望未來3nm技術的時候
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