手持式XRF簡介

時間：2018-09-12

作者：蘇州百測檢測科技有限公司

詞條
詞條說明
Rohs檢測儀詳情
作為國內*的Rohs檢測儀制造廠商，儀器秉承精益求精的研發理念，利用現代半導體技術和計算機技術發展起來的新一代XRF測試儀EDX1800B，能夠**的解決ROHS環保指令涉及的有害物質的快速測定。 Rohs檢測儀技術參數分析檢出限可達1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99％；任意多個可選擇的分析和識別模型；相互獨立的基體效應校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應范圍為15℃至30℃
x射線熒光光譜儀測試方法
能量色散X熒光光譜儀EDX 3600繼承了儀器EDX系列的準確、快速、無損、直觀及環保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果完全符合標準GB-1887《首飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。下面以x射線熒光光譜儀測
光電直讀光譜儀介紹
光電直讀光譜儀的全譜分析技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶需要選擇通道元素；分析速度快捷，20秒內測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設置預燃時間及標線，使儀器用較短的時間達到較優的分析效果；金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。 1、光學系統采用真空恒溫光室
X射線熒光光譜儀原理
X射線熒光光譜儀的原理是通過X射線照射樣品激發產生熒光，通過半導體檢測器收集**的熒光信息并通過計算機進行處理，就能得出待測樣品的各種元素的含量。X射線熒光分析技術可以解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、材料中元素的快速、準確分析。也可以用于ROHS六大有害物質測試和塑料中鹵素的檢測，銅合金元素成分分析及金屬鍍層厚度測試等。 X射線熒光光譜儀的原理是利用低能X光激發待測元素，對Si、S、Al、