大幅提升產(chǎn)品良率：Bamtone離子污染測(cè)試儀優(yōu)化PCB生產(chǎn)工藝

時(shí)間：2025-10-10作者：班通科技（廣東）有限公司瀏覽：51

班通科技（廣東）有限公司專注于離子污染測(cè)試儀,TDR阻抗測(cè)試儀,線寬線距測(cè)試儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• Bamtone ICT系列：一種新型的PCB離子污染程度測(cè)試儀

  在電子制造業(yè)中，印刷電路板（PCB）的清潔度決定著產(chǎn)品可靠性和使用壽命。微量的離子殘留，如來(lái)自助焊劑、汗?jié)n或環(huán)境中的離子等，在通電和潮濕環(huán)境下會(huì)引發(fā)漏電流、電化學(xué)遷移、腐蝕甚至短路，導(dǎo)致電路失效。因此，對(duì)PCB進(jìn)行離子污染度檢測(cè)是生產(chǎn)過(guò)程中不可或缺的質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。Bamtone ICT系列離子污染程度測(cè)試儀的推出，正是為了滿足這一高標(biāo)準(zhǔn)需求，為**電子制造商提供了一種高效且可靠的解決方案。Bamt

• 班通：TDR阻抗測(cè)試儀Bamtone H系列，為國(guó)產(chǎn)制造轉(zhuǎn)型升級(jí)賦能

  隨著5G通信、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等*技術(shù)的飛速發(fā)展，信號(hào)完整性已成為電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)與制造中不可或缺的關(guān)鍵要素。其中，特性阻抗作為衡量信號(hào)傳輸質(zhì)量的重要指標(biāo)，其精確測(cè)試與控制顯得尤為重要。TDR阻抗測(cè)試儀Bamtone H系列憑借**的性能和廣泛的適用性，為廣大工程師們提供了強(qiáng)大而可靠的解決方案。它采用先進(jìn)的真差分測(cè)量技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試線路板及電線電纜的特性阻抗，并具備直觀的波形顯示與分析功能

• 班通科技：如何選擇線寬線距測(cè)試儀，助力PCB良率提升？

  在精密電子制造領(lǐng)域，尤其是高密度PCB（印刷電路板）的生產(chǎn)中，“失之毫厘，謬以千里”是再貼切不過(guò)的寫(xiě)照。線寬線距的微小偏差，都可能導(dǎo)致電路開(kāi)路、短路、信號(hào)完整性下降，較終造成產(chǎn)品良率直線下滑。因此，擁有一臺(tái)精準(zhǔn)、高效的線寬線距測(cè)試儀，已成為**產(chǎn)品質(zhì)量、控制生產(chǎn)成本的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。那么，我們應(yīng)如何選擇高精度線寬線距測(cè)試儀呢？考量1：精度與性能是根本選擇線寬線距測(cè)試儀，首當(dāng)其沖的便是其測(cè)量精度。對(duì)于追求

• Bamtone 班通_自動(dòng)取樣機(jī)助力實(shí)現(xiàn)PCB/PCBA金相切片

  在PCB（印制電路板）及電子封裝的質(zhì)量檢測(cè)與失效分析中，切片分析被譽(yù)為“良好判斷手段”。它通過(guò)截取產(chǎn)品的微觀截面，揭示其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的“真面目”，如孔銅完整性、層間對(duì)準(zhǔn)度、焊點(diǎn)質(zhì)量等。傳統(tǒng)的金相切片制備過(guò)程嚴(yán)重依賴操作人員的手工技藝，從取樣、灌膠、研磨到拋光，每一步都充滿了挑戰(zhàn)與不確定性。人員疲勞、手法差異乃至情緒波動(dòng)，都可能直接影響較終樣品的觀測(cè)面質(zhì)量，從而引入人為誤差，影響分析判斷的準(zhǔn)確性。正因如