分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)

時(shí)間：2022-06-11作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：380

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測(cè)儀器等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)儀器。儀器廣泛運(yùn)用于工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當(dāng)然在實(shí)驗(yàn)室精細(xì)測(cè)量中也有運(yùn)用，包含航空航天、科研開(kāi)發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測(cè)

• X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。 X光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線的

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、

• X光鍍層測(cè)厚儀采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚

  ??????X光鍍層測(cè)厚儀可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能優(yōu)越，而且價(jià)錢**值，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，X光鍍層測(cè)厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。**大/開(kāi)放式的樣品臺(tái)，可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等