【過爐治具】過錫爐治具的詳細介紹

時間：2021-05-29

作者：東莞市賜宏智能設備制造有限公司

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詞條
詞條說明
ICT 測試不良原因分析
ICT 測試不良原因分析1．??開路不良：（常由探針接觸不良所致）開路不良只針對某一短路群而言，例如：有短路群：?? ，?ICT測試出1，10開路不良，表示 PCB 上測試點1與測試點10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬用表在 PCB 上的測試點上進行驗證；可能原因：1）?
PCB測試方法匯總
隨著自動洲試設備成為電子裝配過程整體的一部分，DFT (design for test，可測試設計)不僅僅包括傳統(tǒng)的硬件使用知識，而且也包括測試設備診斷能力的知識。可測試設計不是單個人的事情.而是由設計工程部、側試工程部、制造部和采購部的代表所組成的一個小組的工作。設計工程必須規(guī)定功能產品及其誤差要求.側試工程必須提供一個以最低的成本、最少的返工及達到僅盡可能高的第一次通過合格率(FPY, fa
機箱FRONT I/O 掛耳線測試
一.機箱FRONT I/O 掛耳線測試針對服務器存儲互聯(lián)的人機交互前置面板front I/O掛耳線纜組件進行定制FCT功能測試設備。二.FCT功能測試FCT功能測試(樣品和批量導入時開發(fā)制作FCT測試機)：1.線纜的 Open、short，錯位等2.PCBA上基礎元器件（電阻，電容，二極管，三極管，?ESD等）測試等3.三極管/MOS管：FCT主機輸出電平控制進行功能模擬4.Botton
如何制作標準的ICT測試程序
注意事項:一.??一般情況下不允許修改R 的標準值（電阻并聯(lián)電阻除外）二.??修改程式的上下范圍必須按以下的標準執(zhí)行 .ü??跳線﹑ Connecter ﹑Fuse﹑電感﹑排感 ﹕以J測試﹐ Exp-V用1表示﹐+-10% ﹐MODE為 0 ﹐無Guarding ，無 Offset 。跳線﹕ 當Pin-Pin間有跳帽時﹐Exp-V用1表