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如何通過Prodigy I3C協(xié)議調(diào)試簡化DDR5內(nèi)存設(shè)計(jì)
隨著 DDR5 內(nèi)存設(shè)計(jì)變得越來越復(fù)雜,在系統(tǒng)級(jí)別調(diào)試 I3C 協(xié)議問題對(duì)于確保較佳性能變得至關(guān)重要。Prodigy Technovations 為實(shí)時(shí) I3C 協(xié)議分析和調(diào)試提供了強(qiáng)大的解決方案。為什么選擇 Prodigy 進(jìn)行 I3C 協(xié)議調(diào)試?l? 完整的I3C協(xié)議分析:輕松捕獲和分析復(fù)雜的I3C事務(wù),確保您在設(shè)計(jì)過程中保持**地位。l? 無縫系統(tǒng)級(jí)調(diào)試:在系統(tǒng)級(jí)解決協(xié)議
如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC板子焊接問題
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題,**是通過信號(hào)完整性分析和協(xié)議交互異常定位來反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法:一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗(yàn)證o?探針配置:將分析儀的差分探針(如SCLK、SDATA、GND)正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳,確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊,探針接觸不良可能導(dǎo)致信號(hào)丟失或誤判。o?電源與地
UFS協(xié)議分析儀是針對(duì)通用閃存存儲(chǔ)(UFS)接口開發(fā)的測試工具,主要用于解析UFS、MIPI M-PHY和UniPro協(xié)議層的通信數(shù)據(jù),支持從物理層到應(yīng)用層的全鏈路分析。以下是其主要案例及應(yīng)用范圍的詳細(xì)解析:一、典型應(yīng)用案例1.移動(dòng)設(shè)備研發(fā)與測試l?華為Mate系列手機(jī):在研發(fā)UFS 3.0存儲(chǔ)模塊時(shí),華為使用Prodigy的UFS 3.0協(xié)議分析儀進(jìn)行長時(shí)間數(shù)據(jù)抓取(如連續(xù)運(yùn)行5小時(shí)以
I2C/SPI 鍛煉者器和協(xié)議分析器 I2C協(xié)議分析器和SPI協(xié)議分析器(PGGY-I2C / SPI-EX-PD)是具有多個(gè)功能的協(xié)議分析儀,用于在被測托管和設(shè)計(jì)之間捕獲和調(diào)試通信。 PGY-I2C/SPI-EX-PD 是良好的儀器,通過配置 PGY-I2C/SPI-EX-PD 作為主/奴隸、生成 I2C/SPI 流量和解碼 I2C/SPI 協(xié)議解碼數(shù)據(jù)包,使設(shè)計(jì)和測試工程師能夠測試各自的 I2
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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電 話: 19926571623
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