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Prodigy發(fā)布本新的PCI Express Gen4.0 X4 總線協(xié)議分析儀(Protocol Analyzer )測試解決方案__OIOSYS
Prodigy PGY-PCIe Gen4-PA 是一臺可以支持到PCIe GEN 4的協(xié)議分析儀。PCIe設(shè)計和測試工程師可以輕易的用其來抓取和記錄速度高達2.5、5.0、8 以及16GT/s的數(shù)據(jù)流的特定時間,并可以將即時的錯誤出來。此工具可以讓設(shè)計和測試工程師減少開發(fā)時間,以及16GT/s的數(shù)據(jù)流的特定時間,并可以將即時的錯誤出來。此工具可以讓設(shè)計和測試工程師減少開發(fā)時間,以及減少調(diào)試時間
產(chǎn)品功能 UFS4.0協(xié)議分析儀(PGY-UFS4.0-PA)是一種具有多種功能,可捕獲和調(diào)試主機與被測設(shè)計(DUT)之間的通信的協(xié)議分析儀。UFS4.0協(xié)議分析儀是同類產(chǎn)品中基于值的分析儀,可捕獲和調(diào)試MPHY、UniPro 和UFS協(xié)議層的數(shù)據(jù)。它允許對UFS層、UniPro層和 MPHY層進行即時解碼,并能靈活地在這些協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)解碼數(shù)據(jù)。 UFS4.0協(xié)議分析儀是業(yè)內(nèi)一個可運行并經(jīng)過測試
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時,需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準確性和調(diào)試邏輯的嚴謹性,避免因操作不當導致誤判或遺漏問題。以下是關(guān)鍵注意事項:一、硬件連接與探針設(shè)置:避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠,排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異常”,若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良(如探針未壓緊、探針頭氧化),會導致信號捕獲失真(如波形毛刺、信號丟失),易被誤判為焊接問題。
UFS協(xié)議分析儀是針對通用閃存存儲(UFS)接口開發(fā)的測試工具,主要用于解析UFS、MIPI M-PHY和UniPro協(xié)議層的通信數(shù)據(jù),支持從物理層到應(yīng)用層的全鏈路分析。以下是其主要案例及應(yīng)用范圍的詳細解析:一、典型應(yīng)用案例1.移動設(shè)備研發(fā)與測試l?華為Mate系列手機:在研發(fā)UFS 3.0存儲模塊時,華為使用Prodigy的UFS 3.0協(xié)議分析儀進行長時間數(shù)據(jù)抓取(如連續(xù)運行5小時以
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機: 18588455974
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測試驗證
Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動進樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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