為什么RoHS檢測儀要用X射線熒光光譜

時間：2022-07-05

作者：江蘇一六儀器有限公司

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X熒光光譜儀兩種分類介紹
隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析。接下來和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的
化學鎳鍍層檢測的難點與挑戰有哪些
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全自動多功能XRF分析儀分析全元素成分過程
全自動多功能XRF分析儀是一種基于X射線熒光光譜分析技術的成分分析儀器，可以用于對各種材料進行全元素成分分析儀。下面將介紹全自動多功能XRF分析儀分析全元素成分的過程。一、樣品制備在進行全自動多功能XRF分析儀成分分析前，需要對樣品進行制備處理。根據不同的樣品類型和形態，可以采取不同的制備方法，如研磨、壓片、膠固化等。此外，還需注意樣品的清潔和干燥，避免影響后續分析的準確性和精度。二、樣品放置將樣
鍍層測厚儀在衛浴行業鍍層檢測方面的應用
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