詞條
詞條說(shuō)明
開(kāi)關(guān)電源的熱方式元器件相關(guān)(二)
3、開(kāi)關(guān)電源對(duì)流換熱: 開(kāi)關(guān)電源對(duì)流換熱是指流體和不同溫度的流體或者是固體表面接觸的時(shí)候發(fā)生的傳熱過(guò)程。根據(jù)流體流動(dòng)的原因不同,可以分為自然對(duì)流以及強(qiáng)迫對(duì)流。 開(kāi)關(guān)電源自然對(duì)流:熱量通過(guò)熱傳導(dǎo)傳遞到了靠近它的流體層。當(dāng)液體被加熱的時(shí)候,體積膨脹,密度變小,并且向**動(dòng)。高密度流體流動(dòng)填充,填充的流體吸收了熱量并且向上膨脹。這樣子,熱量從發(fā)熱部件的表面帶走。 開(kāi)關(guān)電源強(qiáng)迫對(duì)流:熱源以熱傳導(dǎo)的方式把熱
關(guān)于開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)概念(二)
2、開(kāi)關(guān)電源熱設(shè)計(jì) 過(guò)高的溫升會(huì)導(dǎo)致開(kāi)關(guān)電源內(nèi)的溫度敏感器件、電解電容器等等元件失效。當(dāng)溫度**過(guò)了某一值的時(shí)候,失效率會(huì)呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)。統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)表明,當(dāng)溫度升高2℃的時(shí)候,電子元器件的可靠性降低了10%,而且電子元器件的壽命僅為25℃時(shí)的1/6。高頻的開(kāi)關(guān)電源具有大功率加熱的裝置,溫度是影響它可靠性的重要因素之一。整個(gè)熱設(shè)計(jì)包括了兩個(gè)方面:如何去控制熱源的供熱能力;如何進(jìn)行散熱。開(kāi)關(guān)電源溫升控制在允
開(kāi)關(guān)電源它是開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓線性電源的簡(jiǎn)稱(chēng),之前的開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)品都是采取線性電源,這是一種晶體管線性穩(wěn)壓電源,因?yàn)樾实拖碌鹊仍蛞呀?jīng)逐漸被開(kāi)關(guān)電源所取代。開(kāi)關(guān)電源,顧名思義就是通過(guò)控制開(kāi)關(guān)管的導(dǎo)通時(shí)間以及關(guān)斷時(shí)間來(lái)維持輸出電壓的穩(wěn)定的電源,它已經(jīng)逐漸向小型化、效率化、模塊化、高可靠性等方向發(fā)展。對(duì)于開(kāi)關(guān)電源來(lái)說(shuō),輸入保護(hù)電路十分重要,開(kāi)關(guān)輸入保護(hù)電路具有過(guò)流保護(hù)、過(guò)壓保護(hù)以及浪涌抑制等等功能,對(duì)于電網(wǎng)的電
現(xiàn)在隨著對(duì)于芯片的使用環(huán)境要求的愈加地苛刻,它在產(chǎn)品的生命周期中也面臨著很大的挑戰(zhàn),但是在隨著制造尺寸的變小以及采取了新的封裝技術(shù)的時(shí)候,就又會(huì)產(chǎn)生一個(gè)新的影響,這也就直接地導(dǎo)致了開(kāi)關(guān)電源器件的性能研發(fā)的失敗。 隨著科學(xué)技術(shù)的日漸發(fā)展,尤其是電子技術(shù)快速的較新?lián)Q代,對(duì)于開(kāi)關(guān)電源等電子設(shè)備所用的元器件的質(zhì)量要求也是越來(lái)越高,而半導(dǎo)體器件的廣泛使用,它的壽命經(jīng)過(guò)了性能退化,較終導(dǎo)致了失效。 在現(xiàn)在有很
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