x射線測(cè)厚儀系統(tǒng)結(jié)構(gòu)構(gòu)成

時(shí)間：2019-08-20作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：312

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  火花直讀光譜儀和手持式光譜儀有哪些區(qū)別手持式光譜儀工作原理：當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上，這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的，這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上，電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移，這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣３蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差；當(dāng)X射線束的能量**電子結(jié)合能就會(huì)發(fā)生位

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  ROHS檢測(cè)儀怎么排除故障？隨著時(shí)代的發(fā)展，安全環(huán)保意識(shí)在人們的心中越來越重要，所以ROHS檢測(cè)儀作為測(cè)量有害物質(zhì)的儀器，得到了大家的廣泛應(yīng)用，那大家知道ROHS檢測(cè)儀使用中的故障排除嗎？下面小編為大家介紹一下。一、數(shù)據(jù)偏差這可能與選擇樣品測(cè)量的類型不一樣，還有就是樣品光譜無意中覆蓋一個(gè)樣品檢驗(yàn)，這就使得在測(cè)試結(jié)果上會(huì)存在很大的不同，而造成這種情況的原因一般是在測(cè)量時(shí)出現(xiàn)了錯(cuò)誤的曲線，或者是有一些

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  ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定

• 淺析鍍層測(cè)厚儀無法避免的測(cè)量誤差問題

  1。測(cè)量對(duì)象引入的誤差測(cè)量對(duì)象引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應(yīng)的影響5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下：1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度