步入式試驗室性能及特點

時間：2016-11-16

作者：廣東宏展科技有限公司

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太陽能試驗規范列表整理
太陽能試驗規范列表整理項目標準號 ?標準名稱 1 GB 11011-89 非晶硅太陽能電池性能測試的一般規定 2 GB 12632-90 單晶硅太陽能電池總規范 3 GB/T 12936.2-1991 太陽能熱利用術語*二部分(Solar energy—Thermal applications—Terminology part 2) 4 GB/T 12936.1-1991 太陽能熱
高低溫濕熱測試箱/高低溫恒定濕熱測試箱/高低溫交變濕熱測試箱
高低溫濕熱測試箱/高低溫恒定濕熱測試箱/高低溫交變濕熱測試箱 SDJ系列簡介：本試驗箱適用于對產品（整機）、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環試驗，以及恒定濕熱和交變濕熱試驗。本試驗箱可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗，其散熱功率不能**過試驗箱制冷量，因制冷量為動態值，其隨溫度點變化而有所變化，同時，較高濕度也會因散熱產品帶來熱量須冷卻平衡時引起凝露而受到影響。
AEC-Q101認證標準簡介
? ? ? AEC-Q101即基于失效機制的分立半導體應用測試認證規范。? ? ? 現如今，半導體分立器件被廣泛應用到消費電子、計算機及外設、網絡通信、汽車電子、LED顯示屏等領域，而汽車領域是**半導體分立器的主要應用市場。隨著汽車電子朝著智能化、信息化、網絡化方向發展，新能源汽車的產銷爆發性增長，半導體分立器件在汽車電子產品中的應用呈
冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試
芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發生