常見芯片開封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介

時(shí)間：2022-11-20作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：623

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,芯片開封機(jī),影像測(cè)量?jī)x,研磨拋光設(shè)備等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 影像測(cè)量?jī)x如何測(cè)量高度

  **種方法接觸式測(cè)量，對(duì)于比較粗糙的，測(cè)量精度是毫米級(jí)別的零件并且不需要全尺寸檢測(cè)只需抽檢，我們可以采取傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器游標(biāo)卡尺直接測(cè)量高度。這樣可以快速測(cè)量，雖測(cè)量精度不高，卻能夠滿足測(cè)量需求。*二種方法接觸式測(cè)量，對(duì)于測(cè)量的精度非常的高的零件，我們可以選擇一臺(tái)可增加探針的影像測(cè)量?jī)x，這就相當(dāng)于一臺(tái)小的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，也就是我們說(shuō)的復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x，在需要測(cè)量高度的地方，用探針取元素（點(diǎn)或者面），然

• 產(chǎn)品演示系列：DeepFocus 1 擴(kuò)展景深數(shù)碼顯微鏡

  ?DeepFocus 1 擴(kuò)展景深數(shù)碼顯微鏡使用MALS?技術(shù)，實(shí)現(xiàn)**快速的視覺觀測(cè)，可以在單一視圖中擴(kuò)展樣本景深達(dá)100倍，*耗時(shí)的景深疊加。利用EDOF擴(kuò)展景深視圖、高程圖和地形圖，可以較清晰、較快速地了解特征。快捷的報(bào)告和測(cè)量工具令DeepFocus 1專為提高生產(chǎn)率而設(shè)計(jì)。? ????以下視頻由工程師為您演示DeepFocus

• 企業(yè)文化

  似空科學(xué)儀器（上海）有限公司是一家**儀器設(shè)備的方案提供商，我們致力于為中國(guó)制造業(yè)和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供高性能、符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的儀器設(shè)備及解決方案。我們?yōu)榭蛻籼峁I(yè)的儀器進(jìn)口貿(mào)易服務(wù)，同時(shí)可以根據(jù)客戶的設(shè)備應(yīng)用場(chǎng)景、生產(chǎn)和研發(fā)規(guī)劃，為客戶的儀器選型提供專業(yè)的咨詢。似空科學(xué)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)也可以為客戶提供激光加工、電子控制、系統(tǒng)軟件或者特定失效分析儀器的定制開發(fā)。儀器設(shè)備發(fā)展的極限是探測(cè)手段和傳感器不對(duì)被測(cè)目

• 失效分析意義及操作步驟

  失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來(lái)說(shuō)，失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范較加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性，為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充，為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容：1，